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www.gstcgstc.com.tw產品：膜厚計、膜厚儀、金屬導電率、陽極處理、防銲綠漆、電鍍層膜厚計、螢光膜厚儀、X-RAY膜厚計、ROHS分析膜厚儀、Solar Cell(太陽能電池)膜厚(CIGS)測試儀瀏覽：1076 -
![國立中正大學物理系暨研究所 -- 本系研究設備]()
physics.ccu.edu.tw... 感應熔煉爐、磁滯曲線量測儀、振盪樣品測量儀、熱分析儀(DTA，TGA)、各種薄膜濺鍍系統、α-step膜厚測量儀、各種高精密高溫爐及手套箱(用於製備對氧靈敏之材料)等。 ...瀏覽：1361
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日期：2024-07-09
電子暨半導體部門. Wafer Fab, Opto Electronic生產設備. 量測設備 . IC裝配生產設備,Opto Electronic設備. 真空配件&其他 . 耗材&零件 LED部門. 晶圓甩幹機. 全光譜膜厚測量儀. 全/單 光譜橢偏儀. 表面輪廓儀（臺階儀）...
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日期：2024-07-06
3.3.4 膜厚測量儀(α-step).....42 3.3.5 掃描式穿遂電子顯微鏡(STM).....43 3.3.6 霍爾量測.....45 3.4 實驗流程.....49 3.4.1 玻璃基板的清洗.....50 3.4.2 背部電極(Back Contact Layer)鎳的鍍製 3.4.3 主吸收層(Main Absorbent Layer) CIS的電沉積51 3.4.4 緩衝層(Buffer ......
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日期：2024-07-11
中文名稱 薄膜測厚儀 英文名稱 Surface Profile 儀器廠牌型號 Dektak II A 購置年限 1984年11月 功能 薄膜厚度，表面圖形量測 放置地點 固態電子系統大樓 1樓 116 實驗室 (TEL：55666) 重要規格 1.最大可測高度65um 2.解析度5A...
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日期：2024-07-10
α-step 膜厚測量儀 - 四寶 :: 四寶 35. 3.6.3 、膜厚測量儀(α-step) 37. 3.6.4、霍爾量測(Hall Measurement) 38 崑山科技大學電機工程系 /url?q 量測得到之膜厚度除以鍍膜時間即為薄膜之沉積速率(deposition rate)。 本實驗使用TENCOR ......
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日期：2024-07-05
首頁 > 產品資訊 > 光電量測 / 光學膜厚量測/薄膜測量/TSV Measurement/標準光源/分光光譜儀/積分球/反射儀/橢圓儀/橢偏儀/光度計/輻射計/顯示器光學測試儀 > 薄膜材料光學參數 ......
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日期：2024-07-11
薄膜厚度量測之 α-step 型號 功能 應用 [ 前一頁 | 回首頁]...
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日期：2024-07-06
‧高分子之分子量測定 ‧水氣透過率 ‧水溶性物質之分離(但無法定量未知物) ‧金屬元素分析定量 ... ‧膜厚量測(α-Step) ‧應力量測 ‧電阻/電性量測 ‧掃描式電子顯微鏡(SEM) 服務窗口：微系統中心 蕭先生 ......
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日期：2024-07-07
Alpha step （薄膜厚度輪廓測度儀） 一XY平台，係藉由一驅動裝置使其產生位移；一探測機構，係設於XY平台之上方，用以測量置於XY平台上待測物之表面輪廓；一Z軸位移系統，係可將探測機構夾固其中，帶動探測機構之位移；一訊號處理模組，係與探測 ......
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