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日期:2024-07-14
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日期:2024-07-12
應用:AOI設備 / 光學檢測設備 / CCD檢測設備 / 外觀檢測設備 / 客製化檢測設備 / 自動檢測機 / 自動化檢測設備 / 瑕疵檢測設備 / LCD檢測設備 / P to P檢測設備 利用機械視覺的方式檢查素玻璃基板的板邊內部與表面上之缺陷,基於高速與...
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日期:2024-07-15
提供各種AOI,自動光學檢測,AOI自動光學檢測,AOI設備,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動光學檢測機,自動光學檢查,AOI檢測,AOI檢測設備,機械視覺,COF,FPC連接器,ITO自動檢測,零件共平面,模具監視器,溢錫自動檢測,連接器自動檢測,線掃描檢測,不織布檢測,瓶胚 ......
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日期:2024-07-15
2007年5月7日 - 橢圓偏光術是一種非接觸式、非破壞性、以光學技術量測薄膜表面特性的方法。其量測原理係運用光在兩層薄膜間的介面或薄膜中發生的現象及其 ......
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日期:2024-07-14
衰減式全反射方式量測光學薄膜. 嘉義大學應用物理系. 羅光耀. 中華民國九十五年九月. 前言. 介紹表面電漿的原理與機制,透過此方式來量測金屬薄膜的介電係數與膜 ......
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日期:2024-07-13
基本光學原理與光學系統. 1.基本光學. 2.光的波動性. 3 偏振光學. 3.偏振光學.
Precision Metrology Lab. AOI Lecture ......
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日期:2024-07-18
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