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        材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ...
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        掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
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    日期:2024-08-23
    場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ~ 30 kV 之電子束 ......
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    日期:2024-08-19
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - ......
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    日期:2024-08-17
    FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型:Hitachi-4700,EDS機型:HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源: ......
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    日期:2024-08-24
    冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性( ......
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    日期:2024-08-21
    Introduction. 1. In the SEM, the area to be examined or the microvolume to be analyzed is irradiated with ......
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    日期:2024-08-21
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    日期:2024-08-20
    NCKU, 成功大學-儀器設備中心 ... 儀器設備中心文宣 中心簡介 中心任務 設置辦法 中心位置 中心主任 儀器分析組(國科會貴重儀器使用中心)...
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    日期:2024-08-19
    1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...