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日期:2024-08-23
第一部分針對互補式金屬氧化物半導體的主動與. 被動元件原理與特性作說明,對常見的電晶體如雙極性電 ......
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日期:2024-08-25
... 圓允收測試及線上量測參數關係分析. Correlation Analysis between Wafer Acceptance Test and In-line....
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日期:2024-08-21
本書不僅在矽晶片製作的相關實例上作描述,也在科學的基礎上作描寫。科學的定理將以許多事例的製程情況下來描述;在大部分的章節裡,模型已經在電腦的模擬程式下來討論,更使用大量的模擬例題來敘述科技運作與顯現不容易被看見的技術方法 ......
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日期:2024-08-21
的就是藉由分析繞射峰線形來判定奈米微粒粉末的粒徑分佈。基本理. 論是由E. F. ..... 非影像式的雷射粒徑量測技術主要的原理是利用光散射原理,其. 又分為動態光散射 ... 沉降,目前市售離心沉降分析儀所量測範圍10nm~30μm[10]。 超音波衰減粒徑 ......
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日期:2024-08-18
半導體工程: 先進製程與模擬 ISBN13:9789868040977 作者:羅正忠 裝訂:平裝 出版社: 普林斯頓國際 出版日: ......
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日期:2024-08-21
半導體工程: 先進製程與模擬 (高立) 作者:羅正忠, 出版社:普林斯頓國際有限公司, 出版日期:2002-10-01 商 ......
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日期:2024-08-18
半導體工程-先進製程與模擬 Silicon VLSI Technology 2002 Jams D.Plummer 羅正忠 http://www. ......
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日期:2024-08-20
半導體工程- 先進製程與模擬(Plummer:Silicon VLSI Technology-Fundamentals,Practice and Modeling) - (授 ......