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![AFM-原子力顯微鏡原理]()
www.knvs.tp.edu.tw第 4 章 原子力顯微鏡原理 （ atomic force microscope, AFM ） 由於 STM 侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀（ atomic force microscope, AFM ），而因為對導體及絕緣體均有 ...瀏覽：985 -
![宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - IST]()
www.istgroup.com掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要利用電子光學系統將電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子束至樣品表面，並利用掃描線圈使其在樣品 ...瀏覽：1057
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第 2 章 原子力顯微鏡基本原理 (Atomic Force Microscpoic ： AFM) AFM 簡介 奈米技術 (Nanotechnology) 是指在奈米尺度 (1nm 到 10nm 之間) 上研究物質 (包括原子及分子的操縱) 的特性和相互作用，目標是利用原子、分子及物質在奈米尺度上所表現出來的物理 ......
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宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 表面分析 - 原子力顯微鏡(AFM)...
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