search:原子力顯微鏡相關網頁資料

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日期:2024-07-19
產品新訊 32 原子力顯微鏡的原理和應用 整度較好,又由於所測的區域是微觀的,所以 至少要求局部比較平整,如果 ......
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日期:2024-07-12
是德提供各種精密型 原子力顯微鏡 (AFM) 供您選擇,以滿足您全方位的研究需求。是德儀器具有靈活的可配置性,您 ......
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日期:2024-07-13
2.1 力檢測部分 在 原子力顯微鏡/AFM的系統中,所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用 ......
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日期:2024-07-13
設備名稱: 原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope, AFM) 購置日期: 93年10月 設備金額: 1,000,000+320,000+20,0 ......
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日期:2024-07-17
Se4Sl_tpf-1 3/S/2007 ll:45:05. 第一章緒. - 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡( Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ......
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日期:2024-07-12
2009年8月30日 - 原子力顯微鏡(Atomic Force Micricopy, AFM)(一) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯. A. 原子力顯微鏡 ......
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日期:2024-07-15
原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件 ......