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zh.wikipedia.org掃描電子顯微鏡 （ scanning electron microscope ），簡稱 掃描電鏡 （ SEM ）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...瀏覽：1036 -
www.nhcue.edu.twSEM實務性的應用-中介與干擾效果的驗證 張偉豪 SPSS宏德國際諮詢資深顧問 成大企管 ... 2 參考文獻 1. Sharma Subhash, Richard M. Durand; OdedGur-Arie(1981). “Identification and ...瀏覽：361
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日期：2025-03-27
NCKU成功大學-研究發展處-儀器設備中心 企劃組 建教組 儀設中心 研發處 聯絡我們 網站地圖 English 成大首頁 數據載入中... 國立成功大學 儀器設備中心 電話：06-2757575#31361 31363 信箱：em61350@email.ncku.edu.tw 國科會 貴重儀器使用中心...
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日期：2025-03-27
NCKU, 成功大學-儀器設備中心 ... [收件公告] 凡欲於今(103)年度申購單價新臺幣500萬元以上經常性作業用儀器者，敬請於103年2月28日前，提交申請表單。...
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日期：2025-03-31
1. LV-SEM主體：在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機：在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統：分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統：決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座：快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...
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電子顯微鏡在材料的分析上一直扮演著重要的角色，尤其是掃描式電子顯微鏡的試片
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日期：2025-03-30
場發射式掃描式電子顯微鏡 ... 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端
而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質分辨率的 ......
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日期：2025-03-31
FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5
~30KV. Ⅱ. 電子光源：冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率：X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ......
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日期：2025-03-26
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜
... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡，並裝設EDS分析系統 ......
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