search:場發射掃描式電子顯微鏡fesem相關網頁資料

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        掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
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      • www.nhcue.edu.tw
        SEM實務性的應用-中介與干擾效果的驗證 張偉豪 SPSS宏德國際諮詢資深顧問 成大企管 ... 2 參考文獻 1. Sharma Subhash, Richard M. Durand; OdedGur-Arie(1981). “Identification and ...
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    日期:2024-07-14
    NCKU成功大學-研究發展處-儀器設備中心 企劃組 建教組 儀設中心 研發處 聯絡我們 網站地圖 English 成大首頁 數據載入中... 國立成功大學 儀器設備中心 電話:06-2757575#31361 31363 信箱:em61350@email.ncku.edu.tw 國科會 貴重儀器使用中心...
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    日期:2024-07-15
    NCKU, 成功大學-儀器設備中心 ... [收件公告] 凡欲於今(103)年度申購單價新臺幣500萬元以上經常性作業用儀器者,敬請於103年2月28日前,提交申請表單。...
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    日期:2024-07-16
    1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...
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    日期:2024-07-17
    電子顯微鏡簡稱電鏡,是根據電子 光學原理,用電子束和電子透鏡代替光束和 光學 ......
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    日期:2024-07-14
    電子顯微鏡在材料的分析上一直扮演著重要的角色,尤其是掃描式電子顯微鏡的試片 ... 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發,已能將影像解析度提升到1 個奈....
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    日期:2024-07-14
    場發射式掃描式電子顯微鏡 ... 利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端 而形成很微小的電子束,在極高的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質分辨率的 ......
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    日期:2024-07-16
    FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型:Hitachi-4700,EDS機型:HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源:冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率:X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ......
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    日期:2024-07-12
    本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜 ... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡,並裝設EDS分析系統 ......