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![場發射掃描式電子顯微鏡 - 中興大學]()
www.google.com.tw冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性(分析項目). 試片準備方式. 收費標準. 台灣大學—理學院.瀏覽：355 -
![閎康科技股份有限公司 > 超音波掃瞄檢測(SAT)]()
www.ma-tek.com其檢測的基本原理為利用超音波發射源 (Probe) 透過純水為介質而傳導到待測試片上，經由超音波的反射或穿透等的作用，將此訊號經機台特定軟體處理成像。而 Probe的選用會因為試片的厚度與材質而有所不同類型的選擇。瀏覽：634
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日期：2024-07-15
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠
度，IC ... EDS可提供樣品表面之微區定性或半定量之成份元素分析，與特定區域 ......
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日期：2024-07-16
本儀器訂於3/2(一)上午9:00開放3月份預約。實驗完成日請填選3月，跨月選取者一律取消預約。上網預約後請盡快傳真或e-mail申請表(最晚在7日內傳真)給技術員以便安排測量時間。有任何問題請和技術員連繫(03-5715131轉33432)。...
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日期：2024-07-16
C-AFM從字面上來看，與原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱 AFM）的原理其實類似，而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。...
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日期：2024-07-15
提供各種電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、電子顯微鏡設備、顯微鏡、光源鏡組、金相設備、攝影機、量測軟體、一般理化儀器、分析儀器、視訊週邊、塗佈器等。力丞儀器科技有限公司，桃園縣桃園市經國路9號7樓之1...
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日期：2024-07-17
多功能場發射掃描式電子顯微鏡Multi- functional Field-Emission Scanning
Electron Microscope. 場效發射式掃描電子顯微鏡(FE-SEM). Multi- functional ......
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日期：2024-07-13
場發射掃描式電子顯微鏡【FE-SEM; Hitachi S4800-I】. 技術人員：林鴻棋先生（05）
2720411 轉33499. E-mail：abc0857206@yahoo.com.tw. 指導教授：李元堯 ......
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日期：2024-07-18
2013年1月18日 ... 用途, 場發射掃描式電子顯微鏡可觀察物體之微結構，由於高電場所發射之電子束徑
小，亮度高，具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度， ......
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