search:場發射掃描電子顯微鏡相關網頁資料
-
-
![場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 - 材料世界網]()
www.google.com.tw電子顯微鏡在材料的分析上一直扮演著重要的角色，尤其是掃描式電子顯微鏡的試片 ... 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發，已能將影像解析度提升到1 個奈.瀏覽：830 -
![場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEGSEM) - 清華大學貴重儀器使用中心]()
www.google.com.tw儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡） 儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy 儀器英文簡稱：FEG-SEM 申請服務 ...瀏覽：1389
場發射掃描電子顯微鏡的相關文章
![Galaxy S4充電自燃 Samsung竟極力隱瞞事件 [影片]](https://www.iarticlesnet.com/pub/img/article/4492/1403803799177_s.jpg)
場發射掃描電子顯微鏡的相關儀器公司資訊
場發射掃描電子顯微鏡的相關商品
瀏覽：771
日期：2024-11-13
場發射式掃描式電子顯微鏡 ... 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端
而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質分辨率的 ......
瀏覽：393
日期：2024-11-09
FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5
~30KV. Ⅱ. 電子光源：冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率：X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ......
瀏覽：1039
日期：2024-11-14
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜
... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡，並裝設EDS分析系統 ......
瀏覽：1118
日期：2024-11-11
場發射型掃描式電子顯微鏡. 最近修改日期:2011.09.23. 掃描式電子顯微鏡其成像
原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面，接收表面產生之訊號(包括
......
瀏覽：1138
日期：2024-11-11
您目前位置：首頁 · 儀器設備 · 儀器設備 場發射槍掃描式電子顯微鏡(LEO 1530) ...
EDS：原子序6~92金屬與陶瓷試片之元素的定性、半定量、面掃描分析; OIM (EBSP)
......
瀏覽：714
日期：2024-11-09
冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE-
SEM). 聯絡方式. 設備特性(分析項目). 試片準備方式. 收費標準. 台灣大學—理學院....
瀏覽：1150
日期：2024-11-11
A field-emission cathode in the electron gun of a scanning electronmicroscope
provides narrower probing beams at low as well as high electronenergy,
resulting ......
瀏覽：1461
日期：2024-11-08
Field emission microscopy (FEM) is an analytical technique used in materials
science to investigate molecular surface structures and their electronic properties
....
網友正在看
熱門 os x 文章
熱門 國際新聞 文章
