search:場發射電子顯微鏡相關網頁資料

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日期:2024-07-29
電子顯微鏡 EM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA-HRTEM) Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM (Cs Corrected Field Emission TEM) 高分辨穿透式電子顯微鏡(HRTEM) HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, HRTEM...
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日期:2024-07-26
材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ......
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日期:2024-07-31
SEM實務性的應用-中介與干擾效果的驗證 張偉豪 SPSS宏德國際諮詢資深顧問 成大企管 ... 2 參考文獻 1. Sharma Subhash, Richard M. Durand; OdedGur-Arie(1981). “Identification and ......
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日期:2024-07-26
場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ~ 30 kV 之電子束 ......
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日期:2024-07-27
近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發,已能將影像解析度提升到1 個奈. 米, 而且不同分析功能的偵檢 ......
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日期:2024-08-02
掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5~30 kV之電子束掃描試片的表面, 接收表面產生之訊號( ......
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日期:2024-07-27
以場發射200KV高能量電子穿透試片,具穿透及掃描功能,可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之 ......
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日期:2024-07-26
儀器中文名稱:場發射槍掃描式電子顯微鏡(簡稱場發射電鏡) 儀器英文名稱:Field Emission Gun Scanning ......