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![場發射掃描式電子顯微鏡 - 義守大學]()
www.isu.edu.twFE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源： ...瀏覽：666 -
![場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學]()
uip.cycu.edu.tw功能說明. 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子 束，在極高的真空中 ...瀏覽：480
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日期：2024-07-28
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - 穿透式電子顯微鏡 (TEM)...
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日期：2024-08-02
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日期：2024-08-01
場發射穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料、生醫材料、高分子材料等。以場發射 200KV 高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。...
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日期：2024-07-26
關鍵詞：場發射式掃瞄式電子顯微鏡、 FESEM 、材料微結構分析. SEM 之發展與工作原理. 電子顯微鏡的 ......
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日期：2024-07-29
Field emission microscopy (FEM) was invented by Erwin Müller in 1936. In FEM, the phenomenon of field electron emission was used to obtain an image on the ......
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