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www.scientech.com.tw系列是採用雷射光散射的原理，符合ISO 13320規範，加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型雷射激光粒徑分析儀。使用弗朗赫夫衍射以及梅氏理論進行結果計算及分析。雙鏡頭專利技術保證所有樣品均能實現一次測量，無須擔心多次分段測試而 ...瀏覽：846 -
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blog.yam.com雷射粒徑分析儀 - 5047\'s Cosmetic Blog - Yahoo!奇摩部落格 雷射粒徑分析儀 這是一台用來測量顆粒或粒子大小的儀器，很多領域裡 ... 型號及名稱 測量原理 LA-950 Mie散射原理 LA-920 Mie散射原理 LA-300 Mie散射原理 LA-550 動態光散射原理 雷射粒徑分析儀 ...瀏覽：485
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日期：2024-07-14
... 界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理...
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日期：2024-07-11
世界級的性能與品質 HORIBA累積長年光學設計技術經驗，開發出業界最大 (註1) 的動態粒徑測量範圍0.01~5000μm的雷射粒徑分析儀LA-960。與HORIBA 其他LA系列粒徑分析儀相同，LA-960採用靜態光散射Mie原理，同時改良奈米粒徑範圍的測量精度與感度, 使得 ......
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日期：2024-07-13
測量原理：動態量測. 粒子分佈：1~ 6000 nm. 測量時間：約2分鐘以內. 需求樣品量：約0.1 ~ 15 mL. 雷射光散射式粒徑分佈分析儀(μm). 測量粒徑範圍0.01~3000μm...
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日期：2024-07-10
2012年1月10日 - 美國國家標準技術研究所(NIST)為單一粒徑分布的粒子製作了一些標準 ... 奈米粒子分選器就是所謂的差分移動性分析儀DMA，其動作原理如下述， ......
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日期：2024-07-08
與HORIBA 其他LA系列粒徑分析儀相同，LA-960採用靜態光散射Mie原理，同時改良奈米粒徑範圍的測量精度與感度, 使得LA-960雷射粒徑分析儀俱備了業界採用可 ......
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日期：2024-07-10
它的原理簡單、操作容易，不僅能測定粒子的大小，還可以分析粒徑的分布情形。 ... 避免前述各種量測方法的缺點，德國在2003 年研發出新型的粒徑分析儀。它利用 ......
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日期：2024-07-12
產品服務, Nanotrac wave 粒徑、界面電位及分子量分析儀, 首頁> 產品服務> 奈米粒 徑分析儀 ... 測量原理, 粒徑測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理...
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日期：2024-07-09
產品描述 Spraytec 為高濃度噴霧液滴及氣膠微粒粒徑量測設計之即時監控設備, Spraytec是使用符合ISO13320之雷射光繞射原理量測0.1–2000 microns微米粒徑,並具備各級防塵,防水,防爆等嚴苛操作環境需求,提供您產品研發,品質管理及更進一步的成為您系統最適化 ......
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