search:導電式原子力顯微鏡相關網頁資料

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        Se4Sl_tpf-1 3/S/2007 ll:45:05. 第一章緒. - 原子力顯微鏡簡介. 掃描式探針顯微鏡( Scanningprobemicr0scopy,SPM) 是在一九八O. 年代初期所發展出一種新的顯微鏡 ...
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        原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)屬於掃描探針顯微技術(Scanning Probe Microscopy , SPM)的一種。AFM具有原子級解析力,其探針大多由矽製成, ...
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    日期:2024-07-30
    針對千元智慧型手機,高通正式推出第三代高通參考設計(QRD)生態系統計畫;可說是在智慧型手機處理器市場,正面與聯發科交鋒。不過,與其說競爭,不如說是高通想要迅速擺脫 ......
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    日期:2024-08-06
    本論文之重點在於使用導電式原子力顯微鏡掃描氮化鎵材料表面,藉. 由高解析度 ... 藉由本論文的實驗結果,我們建立了一個利用導電式原子力顯微術做. 為檢測氮化 ......
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    日期:2024-08-02
    本論文提出利用原子力顯微鏡探測局部光電化學水分解電流分佈的方法。我們利用在 適當濕度的環境下,原子力顯微鏡的探針與氮化鎵表面之間(保持一定距離)形成 ......
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    日期:2024-08-05
    本論文中,我們成功地利用原子力顯微鏡,以奈米氧化的方式對ITO進行表面氧化。該 奈米氧化主要是施加一偏壓於原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)之 ......
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    日期:2024-08-05
    第二部分則為使用導電式原子力顯微鏡量測鑄型化元件的討. 論,並使用下 ... 首先在 製備不同絕緣層的垂直式磁性穿遂介面(pMTJ)研究上,本論文使用直. 流與射頻磁 ......
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    日期:2024-08-02
    本論文提出利用原子力顯微鏡探測局部光電化學水分解電流分佈的方法。我們利用在 適當濕度的環境下,原子力顯微鏡的探針與氮化鎵表面之間(保持一定距離)形成 ......
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    日期:2024-07-31
    本論文中,我們成功地利用原子力顯微鏡,以奈米氧化的方式對ITO進行表面氧化。該 奈米氧化主要是施加一偏壓於原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)之 ......
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    日期:2024-08-04
    目前,我們皆有專業的技術人員可以提供代為檢測各式樣本之服務; 也有專業的諮詢 老師提供儀器諮詢。 ... 導電式原子力顯微鏡CAFM 電流分佈資訊、IC故障分析,3....