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日期:2025-03-30
掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ......
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日期:2025-03-27
提供各種顯微鏡、光源組、光源鏡組、金相設備、攝影機、量測軟體、一般理化儀器、分析儀器、視訊週邊、塗佈機等。力丞儀器科技有限公司,桃園縣桃園市經國路9號7樓之1...
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日期:2025-03-26
掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯 掃描穿隧式顯微鏡(STM)是利用量子穿隧效應(quantum tunneling effect)探測晶體表面原子結構的儀器。...
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日期:2025-03-29
Ruska在其實驗室製作出第一部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope ... 掃描式電子顯微鏡原理的提出與發展,約與TEM 同時; 在1935年提出掃瞄式....
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日期:2025-03-27
儀器中文名稱:生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱:Bio-TEM/SEM ...
儀器購置年月:1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ......
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日期:2025-03-29
解析型掃描穿透式電子顯微鏡. 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子穿透試片,可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析 ......
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日期:2025-03-30
是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面
的高分辨率 ... 与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来
控制放大率的。如果需要更高的放大率,只 ......