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![閎康科技股份有限公司 > 掃描式電子顯微鏡(SEM)]()
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![穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）]()
highscope.ch.ntu.edu.tw穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...瀏覽：1457
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