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日期:2024-07-15
劉有台 / 工研院化學工業研究所 掃描探針顯微鏡技術(Scanning Porbe Microscopy,SPM)具有可分析微米結構以下之能力,其解析能力可到原子、奈米及分子尺寸上。掃描穿隧顯微鏡原理是利用電子穿隧的效應(tunneling effect)來得影像,樣品須要有導電性。原子力 ......
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日期:2024-07-16
場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ~ 30 kV 之電子束 ......
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日期:2024-07-17
... electron microscope),简称扫描电镜(SEM)。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像,且图像呈三维,扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。 .... 參見[编辑]. 穿透式電子顯微鏡 ......
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日期:2024-07-19
冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性( ......
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日期:2024-07-20
掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用 許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡...
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日期:2024-07-21
穿透式電子顯微鏡TEM 張銀祐 2006/12 2 定義 電子顯微鏡,一般是指利用電磁場偏折、聚 焦電子及電子與物質作用所產生散射之原 理來研究物質構造及微細結構的精密儀 ......
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日期:2024-07-19
宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - 穿透式電子顯微鏡 (TEM)...