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        中文名稱 冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器 (SEM S-4700I) 英文名稱 High-Resolution Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive Spectrometer (SEM & EDS) 儀器廠牌型號 Hitachi S-4700I 購置年限 1998 年10月 放置地點
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        1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用
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    日期:2024-07-16
    HITACHI SEM附微區域元素分析系統 HITACHI S-3000N Scanning Electron Microscope with Energy Dispersive Spectromscopy .SEM-EDX 冷場發射掃瞄式電子顯微鏡 HITACHI S-4800N Scanning Electron Microscope 表面張力計...
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    日期:2024-07-17
    S-3000N 掃描式電子顯微鏡簡易操作手冊. (VERSION 1.2). S-3000N 外觀圖. 電子槍. 接物孔徑. SE 偵測器. 特性. (A)二次電子像解析度(SEI Resolution):3.0nm。...
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    日期:2024-07-21
    長庚大學場放射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) 使用須知 1、樣品需乾燥,且在真空中無揮發性。(樣品最好加熱烘烤後,再置入試片室中) 2、樣品需導電,不導電之樣品需 ......
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    日期:2024-07-21
    掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)之電子束和試片的碰. 撞作用可分 ... 等待熱機完成(真空控制操作面板上黃燈熄滅)及抽至高真空後即可操作....
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    日期:2024-07-17
    國立東華大學奈米科技研究中心核心實驗室. 場發射掃描式電子顯微鏡操作手冊. Field Emission Scanning Electron Microscrpe. Operating Manual. (FE-SEM SOP)....
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    日期:2024-07-16
    掃描式電子顯微鏡(SEM)照相系統操作步驟. 連猴子都會拍照片. Even a Monkey Knows How to Take Images. Chinese Version: Nov,1,2009. I Can Make It !...
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    日期:2024-07-20
    中文名稱:JOEL JSM-6700F場發射掃描式電子顯微鏡. 3. ... 及蕭基(Schottky)電子槍而言,其優點是電子束與能量散佈相當小,且在超高真空下操作,解析度佳。...
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    日期:2024-07-20
    本儀器為日本Hitachi SU8000 場發射掃描式電子顯微鏡,利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束,在極高的真空中操作(~10-10 ......