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日期:2024-08-17
顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器,是人類進入原子時代的標誌。主要用於放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學顯微鏡和電子顯微鏡:光學顯微鏡是在1590年由荷蘭的楊森父子所首創。...
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日期:2024-08-20
劉有台 / 工研院化學工業研究所 掃描探針顯微鏡技術(Scanning Porbe Microscopy,SPM)具有可分析微米結構以下之能力,其解析能力可到原子、奈米及分子尺寸上。掃描穿隧顯微鏡原理是利用電子穿隧的效應(tunneling effect)來得影像,樣品須要有導電性。原子力 ......
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日期:2024-08-24
掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯 掃描穿隧式顯微鏡(STM)是利用量子穿隧效應(quantum tunneling effect)探測晶體表面原子結構的儀器。...
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日期:2024-08-24
2:李偉榮譽點數3點張貼:2001-12-27 22:58:00:地點台灣台中[回應上一篇]. 牛頓環,請參考Halliday 普物(第五版) Ch.36 的習題70, 71 題。 或Lerner 普物Ch.36 的 ......
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日期:2024-08-18
有機半導體喹吖啶酮的超分子鏈在石墨上自行組裝的掃描式穿隧電子顯微鏡影像。 用掃描式穿隧電子顯微鏡 ......
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日期:2024-08-21
電性量測,Electrical Measurement,故障分析,失效分析,Failure Analysis,FA,Fault Isolation,Root cause identification,電性故障分析,Electrical Failure Analysis,EFA, I-V, I-V Measurement ,Emission Microscope ,EMMI,InGaAs Camera,InGaAs Detector ,InGaAs,Optical ......
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日期:2024-08-17
第 2 章 原子力顯微鏡基本原理 (Atomic Force Microscpoic : AFM) AFM 簡介 奈米技術 (Nanotechnology) 是指在奈米尺度 (1nm 到 10nm 之間) 上研究物質 (包括原子及分子的操縱) 的特性和相互作用,目標是利用原子、分子及物質在奈米尺度上所表現出來的物理 ......
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日期:2024-08-19
第 4 章 原子力顯微鏡原理 ( atomic force microscope, AFM ) 由於 STM 侷限於試片的導電性質,使得應用範圍大大的減少,為了能有更廣泛的應用科用,故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀( atomic force microscope, AFM ),而因為對導體及絕緣體均有 ......