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![近場光學顯微鏡]()
140.128.17.2385566顯然一般的光學顯微鏡及電子顯微鏡屬於遠場分析，而前面介紹的掃描式穿隧 ... 奈 米材料，分析奈米元件顯微結構及缺陷，近年來已應用在分析半導體雷射元件上。瀏覽：978
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日期：2024-09-08
近場光學顯微鏡(SNOM) ... 所以如何製作更好的近場光學探針，來提高解析度以及有效地控制近場光學探針的 ... 探針與量測物之表面必需具有一小於10nm的距離， 而後再進行掃描的量測，因此 ......
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掃瞄式近場光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)可偵測在
金屬上具有次波長尺度之表面特徵。其圖與激發表面電漿子之方式所提之原理 ......
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掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用探針在樣本
上 ... 磁共振力顯微鏡; NSOM, 近場光學掃描顯微鏡;SNOM,掃描近場光學顯微鏡 ......
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