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  扫描电子显微镜- 维基百科，自由的百科全书
  
  ... electron microscope），简称扫描电镜（SEM）。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。 .... 參見[编辑]. 穿透式電子顯微鏡 ...
  
  2024-11-11
  
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  宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - IST
  
  掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要利用電子光學系統將電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子束至樣品表面，並利用掃描線圈使其在樣品 ...
  
  2024-11-14
  
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高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學

日期：2024-11-10

本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。...

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顯微鏡電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡 SEM / 電子顯微鏡 EM / 桌上型 / 穿透式電子顯微鏡 TEM

日期：2024-11-12

FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡可變真空系統(高/低真空機型)...

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Scanning Electron Microscopy (SEM) - SERC

日期：2024-11-07

The scanning electron microscope (SEM) uses a focused beam of high-energy electrons to generate a variety of signals at the surface of solid specimens....

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第㆔章 - 台灣大學化學系

日期：2024-11-13

掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡...

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閎康科技股份有限公司 - Materials Analysis Technology Inc.

日期：2024-11-08

材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透 ......

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