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![微垂直探針卡之設計與製作 - 自動控制工程學系 - 逢甲大學]()
www.auto.fcu.edu.tw為了達到探針卡電極間的微小間距這目的，可以透過矽的批次製造技術製作 ... In order to achieve the fine pitch between the pads in the probe cards, there have.瀏覽：580 -
![檢視/開啟 - CHUR - 中華大學]()
chur.chu.edu.tw探針卡的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，透過探針卡之探針與晶圓 ... Probe card to be used in the IC testing process, is a very important tool pad contact.瀏覽：760
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STAr Technologies Inc., a leading supplier of parametric, reliability and functional test systems for the semiconductor industry customers. STAr further provides interfaces and accessories such as probe cards, sockets, and fixtures to attain customer sati...
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對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。...
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日期：2024-11-18
圖片引用：http://www.100y.com.tw/productclassM2.asp? ... 探針卡(Probe Card)
應用在積體電路(IC)尚未封裝前，針對裸晶係以探針(Probe)做功能測試，篩選出不 ......
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本发明通过将探针卡的摆针位置设计成足够摆放两组探针的空间，以达到能同时 ......
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日期：2024-11-17
Probing Series. 條列顯示 | 圖片顯示 ... Customize Specification Probe Design and
Manufacture. DC Measurment Probe Card (探針卡). 量測DC 訊號之探針卡 ......
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