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![穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）]()
highscope.ch.ntu.edu.tw穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...瀏覽：1492
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日期：2024-11-02
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日期：2024-11-03
掃描電子顯微鏡的工作 原理 掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點 掃描 ......
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日期：2024-10-27
細生所電子顯微鏡室簡介. 電子顯微鏡依據設計的原理與功能，可以概分為穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope或TEM)及掃描式電子 ......
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日期：2024-11-01
前言 ： 隨著消費性電子元件產品的縮小化，製程以及技術上的提升，對於新產品的開發或改良，都必需仰賴輔助設施來做分析或觀察。掃描式電子顯微鏡(scanning electron ,microscope, SEM)利用電子成像的方式，相較於一般傳統光學顯微鏡，提供了具有較高的 ......
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日期：2024-10-28
電子顯微鏡（英语：electron microscope，簡稱電鏡或電顯）是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。 高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而 ......
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日期：2024-10-29
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