search:穿透式電子顯微鏡分析相關網頁資料

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日期:2024-07-11
儀器中文名稱:場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡 http://www.nscric.nthu.edu.tw/EM/ 儀器英文名稱:Spherical-aberration Corrected Field Emission ......
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日期:2024-07-08
1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...
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日期:2024-07-07
力成科技股份有限公司,半導體製造業, 穩健卓越的力成 力成科技為股票上市公司(股票代碼:6239),成立於1997年5月,是專業的記憶體IC封裝測試公司,更跨足MCP、Micro SD Card封裝新領域,提供客戶完善的半導體後段供應鏈建置及全方位封裝測試 ......
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日期:2024-07-10
材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透 ......
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日期:2024-07-13
材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron ......
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日期:2024-07-06
向量網路分析儀 (VNA) 為 40 Gbps 的被動和主動電子元件,例如偏壓 T 型接頭、電子放大器、平衡 / 不平衡變壓器、衰減器和濾波器,提供重要的量測,如注入損耗、波群延遲、回返損耗和阻抗等。它提供了完整分析 RF 與微波元件特性的能力,包含整合的 ......
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日期:2024-07-09
掃描式電子顯微鏡(SEM). 低能電子繞射(LEED). 電子. 彈性散射電子. 反射式高能電子繞射(RHEED). 穿透式電子顯微鏡(TEM). 非彈性背散射電子. 電子能損譜(EELS). 歐傑電子 ... 電子能損譜儀(EELS) 之原理. 收集背向散射電子和二次電子訊號,並....
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日期:2024-07-12
分析式穿透式電子顯微鏡. ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE. 儀器中文名稱:分析式穿透式電子顯微鏡 儀器英文名稱:ANALYTICAL ......