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www.teo.com.tw先鋒科技專業光電量測儀器代理,產品有光譜儀,雷射加工,太陽光模擬器,太陽能電池檢測,光譜式橢圓偏光儀,科研等級CCD,近場光學顯微鏡,光纖雷射,螢光光譜儀,拉曼光譜儀,NIR近紅外光譜儀,特殊雷射氣體,CCD,輝度/色度計,光譜式LED參數量測儀,LED light bar檢測 ...瀏覽：434 -
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140.116.176.21NanoSpec 3000 使用手冊 南區微奈米中心編製 儀器功能介紹 1. 量測透明膜或半透明膜厚，期範圍為100Å～30μ 2. 反射光譜400nm～800nm 3. 膜厚量測資料分析 量測原理簡介 儀器設備 圖（一）設備圖說 操作順序瀏覽：1129
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膜厚量測 英國牛津儀器OXFORD X 射線螢光膜厚測量儀系列 用於電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業。 900系列X射線螢光測厚儀 ......
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日期：2024-11-11
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