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日期:2024-07-29
鐳射剝蝕-電感耦合等離子體質譜法 在LA-ICP-MS(鐳射剝蝕-感應耦合電漿質譜)中,
樣品通過用脈衝雷射光束燒蝕後直接進行分析。產生的氣霧質被輸送到電感耦合氬 ......
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日期:2024-07-24
輝光放電質譜分析法 固體樣品使用GDMS(輝光放電質譜)測量分析,於Ar電漿輝光
放電中將陰極固體樣品表面電離或濺射中性粒子,再與電子碰撞而被釋放。GDMS高
......
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日期:2024-07-27
質譜. 四極棒式感應耦合電漿質譜儀Q(ICP-MS). iCAP Q 系列. 高解析感應耦合電漿
質譜儀(HR ICP-MS). Element II XR ... 輝光放電式高解析質譜儀. 首頁 · 產品介紹 ......
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日期:2024-07-28
四極棒式感應耦合電漿質譜儀Q(ICP-MS) · iCAP Q 系列 · 高解析感應耦合電漿質譜
儀(HR ICP-MS) · Element II XR · 輝光放電式高解析質譜儀 ... 穩定同位素質譜儀....
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日期:2024-07-23
2013年9月5日 ... 該儀器是輝光放電離子源與高分辨質譜儀的結合,是直接分析導體材料的最佳工具。
幾乎所有在固體樣品中出現的元素包括碳、氧和氮都可被檢測和 ......
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日期:2024-07-26
質譜儀MS · 飛行時間二次離子質譜儀Time-of-Flight Secondary Ion Mass
Spectrometer ... DC與RF輝光放電電源750mm分光室120-800nm分光範圍58條
分光頻道....
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日期:2024-07-30
國家有色金屬及電子材料分析測試中心,擁有美國Thermo Fisher公司最新型號的
Element GD輝光放電質譜儀(GDMS),適用于金屬中ppb級及其以上含量的雜質 ......
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日期:2024-07-24
質譜分析是一種測量離子荷質比(電荷-質量比)的分析方法,可用來分析同位素成分、
有機物構造及元素成分等。 ... 二次離子質譜儀(SIMS); 輝光放電質譜儀(GDMS)....