search:輝光放電質譜相關網頁資料

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        GC-MS分析可用於液體、氣體和固體。對於樣品來說,液體樣品可以直接被注入到GC中;氣體樣品則使用氣密注射器直接將氣態成分傳輸到GC;固體樣品透過溶劑 ...
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        將樣品溶液噴入感應耦合電漿的核心中,電漿溫度高達8000°C,在這樣的高溫下, 所有的分析物種都會被原子化、離子化和熱激發,然後它們可以被OES或MS偵測和 ...
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    日期:2024-07-29
    鐳射剝蝕-電感耦合等離子體質譜法 在LA-ICP-MS(鐳射剝蝕-感應耦合電漿質譜)中, 樣品通過用脈衝雷射光束燒蝕後直接進行分析。產生的氣霧質被輸送到電感耦合氬 ......
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    日期:2024-07-24
    輝光放電質譜分析法 固體樣品使用GDMS(輝光放電質譜)測量分析,於Ar電漿輝光 放電中將陰極固體樣品表面電離或濺射中性粒子,再與電子碰撞而被釋放。GDMS高  ......
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    日期:2024-07-27
    質譜. 四極棒式感應耦合電漿質譜儀Q(ICP-MS). iCAP Q 系列. 高解析感應耦合電漿 質譜儀(HR ICP-MS). Element II XR ... 輝光放電式高解析質譜儀. 首頁 · 產品介紹 ......
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    日期:2024-07-28
    四極棒式感應耦合電漿質譜儀Q(ICP-MS) · iCAP Q 系列 · 高解析感應耦合電漿質譜 儀(HR ICP-MS) · Element II XR · 輝光放電式高解析質譜儀 ... 穩定同位素質譜儀....
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    日期:2024-07-23
    2013年9月5日 ... 該儀器是輝光放電離子源與高分辨質譜儀的結合,是直接分析導體材料的最佳工具。 幾乎所有在固體樣品中出現的元素包括碳、氧和氮都可被檢測和 ......
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    日期:2024-07-26
    質譜儀MS · 飛行時間二次離子質譜儀Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer ... DC與RF輝光放電電源750mm分光室120-800nm分光範圍58條 分光頻道....
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    日期:2024-07-30
    國家有色金屬及電子材料分析測試中心,擁有美國Thermo Fisher公司最新型號的 Element GD輝光放電質譜儀(GDMS),適用于金屬中ppb級及其以上含量的雜質 ......
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    日期:2024-07-24
    質譜分析是一種測量離子荷質比(電荷-質量比)的分析方法,可用來分析同位素成分、 有機物構造及元素成分等。 ... 二次離子質譜儀(SIMS); 輝光放電質譜儀(GDMS)....