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日期:2024-07-04
第 9 章 近場光學顯微鏡 (SNOM) 1. 原理 使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針,在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有 15nm 至 100nm 直徑尺寸之光學孔徑 (optical aperture) 的近場光學探針,再以可作精密位移與掃描探測之壓電陶瓷材料 (piezo-electrcal ceramics) 配合 ......
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日期:2024-07-04
近場光學顯微鏡(SNOM) 目前正在測試近場光學系統。近場光學顯微術的空間解析度接近於電子顯微鏡的高解析度,並兼具傳統光學顯微鏡的優點,屬於非破壞性方法,可量測到真實表面空間,樣品不需繁複製備手續,也不需在真空環境中進行檢驗,而可在 ......
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日期:2024-07-05
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日期:2024-07-03
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日期:2024-07-05
近場光學顯微鏡(SNOM) 組員:何采宇 M9710213 周鈺翔 M9710251 蔡智凱 M9710214 陳利鴻 M9610235 目錄 發展 原理與架構 工作模式 應用與未來發展 近場光學的發展 英國的辛格(Edward Hutchinson Synge)及美國的歐基夫(John Aloysius O‘Keefe, 1916 ......
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日期:2024-07-09
1984 年才因SPM 技術的提升(5),而發展出掃描近 場光學顯微鏡。SNOM 技術中的孔洞是指金屬外 包覆極細光纖的尾端開口,其孔徑小於入射光波 長。將光纖出口靠近樣品表面(5-50 nm) 時,利 用透過光纖孔徑照射或收集漸逝波(evanescent ......
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日期:2024-07-08
1.緒論 掃描式近場光學顯微鏡(SNOM)為現今主要量測低於波長二分之ㄧ解析度之儀器,它是利用尖端極細的光纖探針(孔徑一般約50 nm),外圍包覆著金屬膜將光限制在探針開孔附近,利用精密控制技術使探針在量測表面數十奈米處震盪,由於在一個波長 ......