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www.airitilibrary.com隨機電報雜訊 ； 氮化矽快閃式記憶元件 ； 負電壓溫度引致不穩定 ； 單電荷散逸 ； 滲透路徑 ； 電荷流失機制 ； ...瀏覽：914 -
![快速脈衝IV測量的基本原理在線研討會--會員信息確認]()
www.taiwanwebinar.com[研討會簡介] 近期，許多不同的元素都聚集起來創建一個超越傳統“直流”模式的參數測量（其測試時間可能在數十或數百毫秒內）。這些因素包括，低操作電壓，擴大使用新的和特殊的材料，較高的電路操作溫度，和增加 ...瀏覽：1403
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Emission），產生隨機電報雜訊（Random Telegraph. Noise, ）。RTN 將導致汲極電流變動與臨界電壓飄移....
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日期：2024-09-11
2.2.5 隨機電報雜訊(Random Telegraph noise, RTN) ......................... 11. 2.3 1/f 雜訊模型....
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日期：2024-09-11
隨機電報雜訊(Random Telegraph Signal, RTS)指的是一種會在兩種特定狀態(＋1~ －1)之間跳動的隨機 ......
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2014年4月8日 - ... 的下一代雜訊分析系統，可量測並分析閃爍雜訊(Flicker Noise)和隨機電報雜訊( RTN)。...
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2013年10月24日 - 本論文首次討論不僅考慮元件通道區，並同時考慮源極汲極區，隨機電報雜訊對元件特性 ......
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日期：2024-09-11
Burst noise is a type of electronic noise that occurs in semiconductors. It is also called popcorn noise, impulse noise, bi-stable noise, or random telegraph signal ......
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日期：2024-09-08
Abstract—The random telegraph noise exhibited by deep-suhmicro- meter MOSFET's with very small channel area ( 51 nmz) at room temperature was studied....
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