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日期:2024-11-05
提供各種AOI,自動光學檢測,AOI自動光學檢測,AOI設備,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動光學檢測機,自動光學檢查,AOI檢測,AOI檢測設備,機械視覺,COF,FPC連接器,ITO自動檢測,零件共平面,模具監視器,溢錫自動檢測,連接器自動檢測,線掃描檢測,不織布檢測,瓶胚 ......
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日期:2024-11-07
系列是採用雷射光散射的原理,符合ISO 13320規範,加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型雷射激光粒徑分析儀。使用弗朗赫夫衍射以及梅氏理論進行結果計算及分析。雙鏡頭專利技術保證所有樣品均能實現一次測量,無須擔心多次分段測試而 ......
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日期:2024-11-05
... 界面電位分析儀,為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理...
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日期:2024-11-07
雷射粒徑分析儀這是一台用來測量顆粒或粒子大小的儀器,很多領域裡的人都會用 ... 利用部份微小物體會進行布朗運動的原理,雷射光就能持續測量到不同粒子的型 ......
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日期:2024-11-12
測量原理:動態量測. 粒子分佈:1~ 6000 nm. 測量時間:約2分鐘以內. 需求樣品量:約0.1 ~ 15 mL. 雷射光散射式粒徑分佈分析儀(μm). 測量粒徑範圍0.01~3000μm...
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日期:2024-11-11
2012年1月10日 - 美國國家標準技術研究所(NIST)為單一粒徑分布的粒子製作了一些標準 ... 奈米粒子分選器就是所謂的差分移動性分析儀DMA,其動作原理如下述, ......
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日期:2024-11-10
與HORIBA 其他LA系列粒徑分析儀相同,LA-960採用靜態光散射Mie原理,同時改良奈米粒徑範圍的測量精度與感度, 使得LA-960雷射粒徑分析儀俱備了業界採用可 ......
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日期:2024-11-06
LA-300雷射光散射式粒徑分佈分析儀結合了HORIBA所保證的高準確度、寬廣的測量 ... 測量原理. Mie散射原理. 測量粒徑範圍. 0.1~600um. 測量時間. 約20秒(從開始 ......