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靜電測試儀/靜電手環/表面測量計
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日期：2024-07-11
Instruments & Trustat E.S.D Control System- 靜電量測器 綜合頁 靜電量測儀器 FMX-003 M-3檢測器 FWC靜電測量板 EA-5J 靜電分析儀 ST-3 表面量測器 防靜電手環 防靜電手腕帶 20R 防靜電手腕帶 WS-AM6...
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冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(FE-SEM)
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日期：2024-07-12
冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(FE-SEM) 詳細資料. 簡稱, FESEM. 編號，依儀器, PISC019. 中文名稱, 冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈 ......
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粒徑分析儀,系列是採用雷射光散射的原理,符合ISO 13320規範,加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型 ...
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日期：2024-07-15
系列是採用雷射光散射的原理，符合ISO 13320規範，加上雙鏡頭專利以及PIDS專利技術而生產的最新型雷射激光粒徑分析儀。使用弗朗赫夫衍射以及梅氏理論進行結果計算及分析。雙鏡頭專利技術保證所有樣品均能實現一次測量，無須擔心多次分段測試而 ......
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粒度分析檢測、粒度分析量測、微米/奈米粒度分析-北科大奈米中心
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日期：2024-07-11
... 界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理...
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雷射粒徑分析儀@ 5047's Cosmetics Blog :: 痞客邦PIXNET ::
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日期：2024-07-15
雷射粒徑分析儀這是一台用來測量顆粒或粒子大小的儀器，很多領域裡的人都會用 ... 利用部份微小物體會進行布朗運動的原理，雷射光就能持續測量到不同粒子的型 ......
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粒徑量測、粒度分佈分析檢測委託試驗-雷射粒徑量測分析儀 ...
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日期：2024-07-15
測量原理：動態量測. 粒子分佈：1~ 6000 nm. 測量時間：約2分鐘以內. 需求樣品量：約0.1 ~ 15 mL. 雷射光散射式粒徑分佈分析儀(μm). 測量粒徑範圍0.01~3000μm...
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雷射粒徑分析儀LA-960 Laser Particle Size Analyzer -
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日期：2024-07-11
與HORIBA 其他LA系列粒徑分析儀相同，LA-960採用靜態光散射Mie原理，同時改良奈米粒徑範圍的測量精度與感度, 使得LA-960雷射粒徑分析儀俱備了業界採用可 ......
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Horiba 雷射粒徑分析儀LA-300 Laser Particle Size Analyzer -
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日期：2024-07-11
LA-300雷射光散射式粒徑分佈分析儀結合了HORIBA所保證的高準確度、寬廣的測量 ... 測量原理. Mie散射原理. 測量粒徑範圍. 0.1~600um. 測量時間. 約20秒(從開始 ......
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