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![X光繞射原理及其應用 - 材料世界網]()
www.materialsnet.com.tw83年2月‧工業材料86期‧– 103 – 過修正步驟才能得到未變形的倒置晶格層。因而另有相同功能的進動照相機出現。妵進動法 進動式相機設計上較其它之照相機複 雜，但所得之繞射樣式較容易解釋。照片上瀏覽：1411 -
![土壤及地下水污染整治網-參考手冊]()
sgw.epa.gov.tw貫入系統的另一項元件是套管系統 (rod system)，為採用中空套管做為推進探測鑽頭或採樣工具的連接系統。套管類型的大致可分為單套管與雙套管二種，如本手冊圖4.2.1-2。單套管較雙套管系統容易運作，且採集單一樣品的速度較快。瀏覽：470
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日期：2024-08-08
VSM 之量測技術，於 1959 年開始發展，主要用於巨觀磁特性的量測。一般藉由 VSM 來量測矯頑磁力(Hc)、殘磁厚度積(Mrt)、飽 和磁化量(Ms)、磁滯曲線之方形比(squareness)等性質。VSM 之配置 方式如圖 3-1 所示，將試片固定於測試棒之上，並將 ......
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日期：2024-08-14
產品簡介 Mastersizer 系列粒度分析儀經過不斷的發展，能夠滿足工業和學術界用戶的需要。Mastersizer 創造性地使用雷射光繞射技術，已成為世界上實驗室粒度分析的首選產品。它可以精確、無損傷地測量從次微米到幾毫米的範圍廣泛的顆粒粒度，濕法和乾 ......
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日期：2024-08-08
中文名稱：雷射光繞射粒徑分析儀. ○ 英文名稱：Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method. ○ 廠牌&型號：Couler, LS230. ○ 量測原理：利用雷射光 ......
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日期：2024-08-11
Malvern高濃度奈米-界面電位-分子量Zetasizer(粒徑範圍0.3nm～10000nm) ... Malvern雷射繞射粒徑分佈分析儀Mastersizer(粒徑範圍0.01um~3500um). Malvern ......
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日期：2024-08-09
產品簡介. Mastersizer 系列粒度分析儀經過不斷的發展，能夠滿足工業和學術界用戶的需要。Mastersizer 創造性地使用雷射光繞射技術，已成為世界上實驗室粒度 ......
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日期：2024-08-12
本公司為Occhio台灣獨家代理, 影片由原廠提供, 詳細產品介紹請連結www.titanex.com.tw....
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日期：2024-08-09
的就是藉由分析繞射峰線形來判定奈米微粒粉末的粒徑分佈。基本理. 論是由E. F. ..... 非影像式的雷射粒徑量測技術主要的原理是利用光散射原理，其. 又分為動態光散射 ... 沉降，目前市售離心沉降分析儀所量測範圍10nm~30μm[10]。 超音波衰減粒徑 ......
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日期：2024-08-09
雷射粒徑分析儀. HORIBA 粒徑分析儀與Colloidal Dynamics 全自動界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上 ... 奈米中心-X射線繞射儀XRD...
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