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日期:2024-08-08
VSM 之量測技術,於 1959 年開始發展,主要用於巨觀磁特性的量測。一般藉由 VSM 來量測矯頑磁力(Hc)、殘磁厚度積(Mrt)、飽 和磁化量(Ms)、磁滯曲線之方形比(squareness)等性質。VSM 之配置 方式如圖 3-1 所示,將試片固定於測試棒之上,並將 ......
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日期:2024-08-14
產品簡介 Mastersizer 系列粒度分析儀經過不斷的發展,能夠滿足工業和學術界用戶的需要。Mastersizer 創造性地使用雷射光繞射技術,已成為世界上實驗室粒度分析的首選產品。它可以精確、無損傷地測量從次微米到幾毫米的範圍廣泛的顆粒粒度,濕法和乾 ......
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日期:2024-08-08
中文名稱:雷射光繞射粒徑分析儀. ○ 英文名稱:Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method. ○ 廠牌&型號:Couler, LS230. ○ 量測原理:利用雷射光 ......
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日期:2024-08-11
Malvern高濃度奈米-界面電位-分子量Zetasizer(粒徑範圍0.3nm~10000nm) ... Malvern雷射繞射粒徑分佈分析儀Mastersizer(粒徑範圍0.01um~3500um). Malvern ......
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日期:2024-08-09
產品簡介. Mastersizer 系列粒度分析儀經過不斷的發展,能夠滿足工業和學術界用戶的需要。Mastersizer 創造性地使用雷射光繞射技術,已成為世界上實驗室粒度 ......
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日期:2024-08-12
本公司為Occhio台灣獨家代理, 影片由原廠提供, 詳細產品介紹請連結www.titanex.com.tw....
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日期:2024-08-09
的就是藉由分析繞射峰線形來判定奈米微粒粉末的粒徑分佈。基本理. 論是由E. F. ..... 非影像式的雷射粒徑量測技術主要的原理是利用光散射原理,其. 又分為動態光散射 ... 沉降,目前市售離心沉降分析儀所量測範圍10nm~30μm[10]。 超音波衰減粒徑 ......
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日期:2024-08-09
雷射粒徑分析儀. HORIBA 粒徑分析儀與Colloidal Dynamics 全自動界面電位分析儀,為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上 ... 奈米中心-X射線繞射儀XRD...