search:電子束檢測設備相關網頁資料

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日期:2024-08-11
企業中文名稱 東捷科技股份有限公司 企業英文名稱 CONTREL TECHNOLOGY CO., LTD 產業類別 半導體(Semiconductor)-濺鍍機(Sputter),半導體(Semiconductor)-雷射刻印,半導體(Semiconductor)-Loader/Unloader,半導體(Semiconductor)-BC/EAP/MES ......
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日期:2024-08-08
X光射線 (以下簡稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長但高電磁輻射線。而對於樣品無法以外觀方式檢測之位置,利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質 ......
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日期:2024-08-12
晶圓缺陷檢測設備市場即將掀起新風暴。自2012年開始,晶圓代工業者已逐步在28 奈米(nm)先進製程中導入高階電子束晶圓缺陷檢測(E-beam Inspection)設備,以 ......
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日期:2024-08-06
圖2 KLA-Tencor行銷長Brian Trafas指出,KLA-Tencor擁有完整的光學與電子束 檢測設備陣容,將持續站穩先進製程晶圓缺陷檢測市場。...
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日期:2024-08-10
2014年5月26日 ... 半導體設備大廠美商科磊(KLA Tencor)總裁暨執行長Rick Wallace表示,雖然近幾 年電子束缺陷檢測設備需求不錯,但由各半導體大廠的先進製程 ......
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日期:2024-08-10
2013年8月22日 ... 光學檢測大廠科磊(KLA-Tencor)在8月21日的颱風天召開記者會前,所有媒體最為 關心的就是台系電子束(E-beam)檢測設備大廠漢微科,是否會 ......