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![漢民微測科技股份有限公司 - Hermes Microvision, Inc.]()
www.google.com.tw如今漢民微測的eScan 電子束缺陷檢測設備已經符合了客戶所期望之同一晶圓廠內 ，所有的eScan 檢測機台間，高度的性能一致性和系統穩定性的要求。瀏覽：998 -
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www.google.com.tw在奈米技術世代之前，光學晶圓檢測機台尚能克服線寬不斷微縮的挑戰，但在進入90 ... 2003 年，集結兩岸精英的研發團隊，成功開發出第一台「電子束缺陷檢測設備( ...瀏覽：516
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日期：2024-07-08
公司主要提供電子束(e-beam)掃描檢測設備，為晶圓廠檢測晶圓缺陷。缺陷檢測技術
包括暗場、明場及電子束，進入90奈米世代後，傳統光學檢測技術(暗場、明場)遭遇 ......
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日期：2024-07-08
1x奈米製程將引燃晶圓缺陷檢測技術新戰火。 ... 形成三面立體結構，使得傳統光學
檢測掃描失敗率大增，須搭配解析度更高的電子束檢測機台，才能補強晶圓缺陷檢測
......
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日期：2024-07-11
1x奈米製程將引燃晶圓缺陷檢測技術新戰火。光學檢測囿於解析度限制，已無法滿足
1x奈米晶圓驗證要求，遂使得新一代電子束技術快速嶄露頭角；不過，現階段電子束 ......
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日期：2024-07-11
子束製程監控系統等機台設備。電子束. 檢測設備需整合電子束及影像應用等科 ... 功
開發出第一台「電子束缺陷檢測設備 ... 戶所設置之電子束檢測設備機台數量推....
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日期：2024-07-07
缺陷檢測技術主要有暗場(Dark Field)、明場(Bright Field)和電子束(e-Beam)檢查。
電子束檢測以聚焦電子束作為檢測源，靈敏度最高，但是檢測速度最慢，價格最高。...
瀏覽：1279
日期：2024-07-09
2014年5月26日 ... 半導體設備大廠美商科磊（KLA Tencor）總裁暨執行長Rick Wallace表示，雖然近幾
年電子束缺陷檢測設備需求不錯，但由各半導體大廠的先進製程 ......
瀏覽：1063
日期：2024-07-08
2015年1月30日 ... 隨著採用Ｉ 設備協助， 以順利調整製程參數， 拉高成品缺生產良率往往更為偏低，
急需先進電子束檢測此更容易生產出有缺陷的瑕疵產品， 工廠產線 ......
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日期：2024-07-14
一. 儀器名稱. ＊中文名稱： 電子束晶圓缺陷檢測設備. ＊英文名稱：E-beam
inspection tool. ＊英文簡稱： eScan310. 二. 儀器廠牌、型號、購置年限. 廠牌： HMI.
型號： ......
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