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![穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）]()
highscope.ch.ntu.edu.tw2009年9月9日 ... 在這些新的研究工具當中，穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy； TEM )可提供材料內部的形態、晶體原子結構…由於TEM具備高解 ...瀏覽：549 -
![透射电子显微镜- 维基百科，自由的百科全书]()
zh.wikipedia.org透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，縮寫TEM），简称透射 ..... 由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后 ...瀏覽：667
電子顯微鏡解析度的相關文章
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日期：2024-07-09
定電子顯微鏡磁場透鏡構造的基礎。1934 年，. Rüska 發表第一部穿透式電子顯微鏡
(TEM)，. 1935 年，Driest 和Muller 改良Rüska 的電子顯. 微鏡，使其解像力大於 ......
瀏覽：303
日期：2024-07-08
發展、成像原理 、儀器設備、分析方法以及實際應用的例子，作完整的介紹。 關鍵字：電子顯微鏡(EM)、高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM ......
瀏覽：945
日期：2024-07-14
前言 ： 隨著消費性電子元件產品的縮小化，製程以及技術上的提升，對於新產品的開發或改良，都必需仰賴輔助設施來做分析或觀察。掃描式電子顯微鏡(scanning electron ,microscope, SEM)利用電子成像的方式，相較於一般傳統光學顯微鏡，提供了具有較高的 ......
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日期：2024-07-11
有效解析度 200 萬畫素 (1600 * 1200) CMOS 光學接目鏡倍率 數位接目鏡倍率 20X 約60X 接物鏡倍率 平台式：5X、10X、20X 手持式：0.4X 、 2.5X 光學放大倍率 (肉眼) 平台式：100X、200X、400X (三段調整) 手持式：8X 、50X (二倍率平滑調整)...
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日期：2024-07-11
是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面
的高分辨率 ... 与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来
控制放大率的。如果需要更高的放大率，只 ......
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日期：2024-07-09
電子顯微鏡 放大鏡 顯微鏡 光學 數位顯微鏡 ... 廣華電子商城 / 敦華電子材料有限公司 臺灣40757臺中市西屯區環河路18號 (老虎城正後方) TEL: 04-3602-6363、04-2259-9030 / Fax: 04-3602-9038、04-2259-9250 E-Mail: sales@cpu.com.tw...
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日期：2024-07-12
本儀器為日本Hitachi SU8000 場發射掃描式電子顯微鏡，利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作（~10-10 ......
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日期：2024-07-10
型號 3D VMM-6060C 移動台行程 (mm) 600 x 600 (氣浮) 機台尺寸 (mm) 1500 x 1300 x 1510 機台重量 (kg) 1300 Z 軸移動範圍 80 mm 位置數位顯示單元 三軸光學尺與三軸電腦數位顯示 (解析度0.5 mm) X／Y示值誤差 (3 + L/200) um L為被測長度 ......
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