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![穿透式電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書]()
zh.wikipedia.org穿透式電子顯微鏡 （ 英語 ： Transmission electron microscope ，縮寫 TEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以 ...瀏覽：1336 -
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日期：2024-07-17
材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透 ......
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日期：2024-07-18
研發奈米科技的基本工具之一. 電子顯微鏡介紹– TEM. 穿透式電子顯微鏡(
Transmission Electron Microscopy；TEM). 對於近十年來迅速發展的半導體製程，
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