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![TES泰仕電子工業股份有限公司-接地電阻計]()
tes.com.tw型號/品名, 產品圖片, 特性, 規格. PROVA 5601. PROVA 5637. 鉤式接地電阻計. 非 接觸式量測法、量測時間只需傳統方式的1/10, 準確度2%(100 Ω 內); 量測範圍0.025 ...瀏覽：767 -
![改善車用ETB性能 磁性位置感測器轉向非接觸式 - 技術前瞻 - 新通訊元件雜誌]()
www.2cm.com.tw定義可容許的最大誤差 汽車製造商的電子式節流閥體規格書，總會在理想曲線的任一側包含一項可容許的積分非線性(Integral Non-Linearity, INL)誤差頻段；通常INL必須小於VDD的1%。在生產線末端(EOL)的程式設定，是必須定義橫跨整個閥門的旋轉幅度內電壓訊號 ...瀏覽：942
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日期：2024-09-04
長期暢銷機種，接觸式轉速計：0.5-2萬轉、皮帶速度計：0.05-1999.9M/min、光電非接觸式轉速計：5-10萬轉 ... LAAB全省直營門市 技術支援 快速供貨 DT-2236 光電/接觸兩用轉速計 詳細資料 DT-2236 光電/接觸兩用轉速計 結構說明 DT-2236 光電/接觸兩用 ......
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日期：2024-09-04
非接觸式晶片阻值測試機. 以非接觸式渦電流(eddy current)量測晶片或晶棒電阻.
功能簡述如下: 1. 提供精確量測模式與快速量測模式. 精確模式下，需按量測鍵得到 ......
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日期：2024-09-05
淺談淺接面之非接觸式片電阻與漏電流量測－表面光電效應之應用. [ 本篇摘要] 前言
隨著製程技術的演進，元件製造已經進入奈米等級；由ITRS之預估可以看出兩年內 ......
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日期：2024-09-09
EddyCus® TF Mapping 系列是特別設計，為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電
薄膜(TCO)的測量系統，為單點自動化的非接觸式方法,測量2D mapping 片電阻值和
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日期：2024-09-09
EddyCus® TF lab 系列是特別設計，為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜的
測量系統，為單點非接觸式的方法，即時測量薄厚和片電阻值。這系列的儀器也適用
......
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日期：2024-09-07
... 量測機. 非接觸式阻抗自動量測機相較於傳統探針接觸式量測樣品阻抗之方法，
具有可避免樣品損傷，量測速度快，能在高速移動下量測待測物阻抗均勻性等優點 ......
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日期：2024-09-10
電阻率/PN性/少子壽命. 非接觸式電阻率測量(Non-contact Sheet Resistance
Measurement) ... 產品名稱： 非接觸式電阻係數量測(Silicon Wafers). 產品型號： NC
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日期：2024-09-11
相關部門：量測事業處 ... ITO薄膜電阻測量感測器，ITO膜的電阻值的非接觸檢測，
通常使用在FPD（面板顯示），LCD（液晶顯示器）面板和 ... 非接觸式，相當於高速檢測...
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