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日期:2024-08-23
穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy, TEM) 穿透式電子顯微鏡
具有高穿透能力及高解析度,為材料科學研究上最重要的工具之一。穿透式電子顯微
......
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日期:2024-08-18
定電子顯微鏡磁場透鏡構造的基礎。1934 年,. Rüska 發表第一部穿透式電子顯微鏡
(TEM),. 1935 年,Driest 和Muller 改良Rüska 的電子顯. 微鏡,使其解像力大於 ......
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日期:2024-08-21
發展、成像原理 、儀器設備、分析方法以及實際應用的例子,作完整的介紹。 關鍵字:電子顯微鏡(EM)、高解析度穿透式電子顯微鏡分析(HRTEM ......
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日期:2024-08-21
聚焦透鏡用於將最初的電子束成型,物鏡用於將穿過樣品的電子束聚焦,使其穿過樣品(在 掃描穿透式電子顯微鏡 ......
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日期:2024-08-23
同調性(coherent) 的電子束源,所以場發射. 穿透式電子顯微鏡較適合加裝X 光的偵測器. 如E D S,或裝上掃描線圈成為掃描穿透電子. 顯微鏡(scanning transmission ......
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日期:2024-08-20
一維氮化鎵奈米線(1-D GaN Nanowires)元件 氮化鎵(GaN)是一種三五族化合物半導體發光材料。由於其優越的高亮度藍光發光特性,在眾多三五族發光材料中,GaN是其中最受到注目的材料之一。在半導體光電元件的發展歷史中,GaN的面世帶來革命性的影響 ......
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日期:2024-08-17
儀器中文名稱:高解像能電子顯微鏡 儀器英文名稱:HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 儀器英文簡稱:HRTEM 申請服務請從 科技部/ ......
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日期:2024-08-20
請填寫網站簡述 ... 高分辨穿透式電子顯微鏡 HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 儀器中文名稱: ......