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日期:2024-07-11
2.1 力檢測部分 在 原子力顯微鏡/AFM的系統中,所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用 ......
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日期:2024-07-08
原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning
force microscope,SFM)是一種奈米級高分辨的掃描探針顯微鏡,優於光學繞射 ......
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日期:2024-07-09
2009年8月30日 ... 原子力顯微鏡(Atomic Force Micricopy, AFM)(一) 國立彰化師範大學物理所陳建淼
研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯. A. 原子力顯微鏡 ......
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日期:2024-07-10
Title Nanosurf AFM 原子力顯微鏡原理簡介 Author Liu ming-yeh Last modified by ypu Created Date 10/26/2009 ......
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日期:2024-07-11
原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间 ......
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日期:2024-07-13
... 高靈敏度化學分. 子及生物分子的檢測(8-11),AFM 中的探針懸臂是利 ..... 會感受
到原子力,其來自探針末端原子與表面原子. 間的交互作用力,隨 ..... 掃描探針顯微儀
、光學顯微鏡及掃描電子. 顯微鏡的比較....
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日期:2024-07-07
工作 原理 AFM的基本 原理與STM類似,在 AFM中,使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品錶面作光柵式掃 ......