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    XRF射線螢光分析儀-嘉富億科技股份有限公司
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    日期：2024-10-06
    X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer：XRF），是一種快速的、非接觸式的物質測量方法。 主要由激發、色散、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。...
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    光性電性磁性熱性物性結構性質委託試驗量測分析-奈米光電磁材料技術研發中心
    瀏覽：937
    日期：2024-10-09
    閱覽 室溫7000/件 加熱每增加100度每件加收500元 材資館3樓 正常 可 熱重及熱差分析(TG/DTA) 閱覽 3000/件 超過3小時每小時加收500元 坩鍋另計 不折扣 材資館3樓 正常 可 熱膨脹係數(CTE)、熱機械性 閱覽 3000/件 超過5小時每小時加收500元...
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    EPMA, Inst. of Earth Sciences, Academia Sinica
    瀏覽：1266
    日期：2024-10-08
    概要 電子微探技術的優勢在於非破壞性，並可從物質表面分析微米大小的區域，以查驗元素的分布情形和化學成分含量（大於‰）。從1960年代開始，已應用在分析廣義的材料科學，而今電子探針在地球與行星科學領域對礦物化學分析來說已是必須的儀器。...
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    EDS(能量色散X-射線光譜) - 材料分析、失效分析、材料表面分析 ...
    瀏覽：1174
    日期：2024-10-06
    能量分散X-射線光譜分析 EDS（能量色散X-射線光譜）是一種可以與SEM（掃描電子 顯微鏡），TEM（透射電子顯微鏡）和STEM（掃描透射電子顯微鏡）配合使用的分析 ......
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    材料工程系
    瀏覽：1248
    日期：2024-10-10
    EDS 可提供定性及半定量之成分分析，當入射電子束撞擊試片發生作用時會產. 生 許多訊號，其中可產生連續X 光和特徵X 光，連續X 光為入射電子減速所放出的....
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    宜特科技- 材料分析 - iST
    瀏覽：449
    日期：2024-10-08
    等、成份分析的AES, EDS ...等、熱分析的TMA、單一電晶體電性量測的Nano- probing，再加上實驗室人員的豐富實際經驗與專業知識，如IC Process / Package/ ......
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    材料分析 - 汎銓科技
    瀏覽：1249
    日期：2024-10-04
    分析目的, 分析內容, 分析技術, 英文簡稱全名. 化學成分的分析, 微區元素成份, AES, EELS/TEM, EDS/TEM, SIMS. ASS: Atomic absorption spectroscopy...
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    下載 - 國立中央大學
    瀏覽：461
    日期：2024-10-09
    本文冺用掃描式電子顯微鏡(SEM)、微區元素分析(EDS)及X 光. 粉末繞射 ... 列的 微觀分析，探討鹼-矽膠體於形貌、元素組成及化學組成的特性。 本研究所觀察之鹼- ......
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