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日期:2024-08-24
2012年5月2日 - 測試分類機的機械結構在取放IC 的操作時需要時間,一顆IC 流程為(輸入 ... 财要達到自動化測試,必需要在Tester、HiFix、Change Kit 組立完成的 ......
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日期:2024-08-24
ic 測試分類機change kit商店資訊:行動搜尋隨手查, 最多台灣商店資訊內容。...
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日期:2024-08-20
LCD驅動IC測試系統. T6373 · T6391. Evolutionary ... 分類機產品系列. 邏輯IC. img_idx_product_logic ... 測試載具(Change Kit). img_icon_di_0005: 效能電路板....
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日期:2024-08-23
透過我們的測試分類機,元件可自動載入測試系統,並依特性進行分級與分類,進而 ... 供應如針測卡、IC插座及測試載具(Change Kit) 等連接半導體元件與測試系統的 ......
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日期:2024-08-22
邏輯IC分類機. Zen Voce Probe Card. 晶圓測試板. 代理Sensata. IC測試連接座. 邏輯產品. 封裝測試. Zen Voce Hi-Fix. 記憶體封裝測試介面. Zen Voce Change Kit....
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日期:2024-08-23
適用於燒機與老化測試; 最多達800通道同時測試; 最高達150度溫度控制; 操作員利用Carrier放置待測物; Change Kit 設計供測試種類不同待測物 ......
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日期:2024-08-21
1.5.6多晶片模組構裝 11 1.5.7系統級構裝 11 1.6 IC成品測試介紹 12 1.6.1測試機台(Tester) 12 1.6.2測試分類機(Handler) 14 1.6.3 Hi-Fix 15 1.6.4 Change Kit 16...
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日期:2024-08-20
承載待測品進行測試的自動化機械結構,其內有機械機構將待測品一顆顆從標準容器內自動的送到測試機台的測試頭(Test Head)上接受測試,測試的結果會從測試機 ......