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![SILICON Probe Card Lift Time 实验计画201最新整理3 - 豆丁网]()
www.docin.comTOHO Silicon Probe Card量產實驗計畫 關於日本TOHO(東邦)Silicon Probe Card的實驗，先前Novatek已經做過一 次，但是失敗了。原因為probe card扎到異物導致探針永久損壞。為了真正了解 此種Probe Card的耐用情形，TOHO再次提供一片Probe Card供實驗用途。瀏覽：1468 -
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www.google.com.twProbe Card簡介; Tester(測試機); Why Do We Test? 封裝測試; Characteristics of BIST; Fault種類. Probe Card簡介. 用途:Probe Card乃是Tester與DUT(deviceunder ...瀏覽：864
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日期：2024-08-02
薄膜針測卡(Membrane Probe Card)是採用薄膜技術(Thin Film technology)製成。
... 儀將會受到市場需求的限制而縮小其銷售量，只限於特殊用途的廠商才會購買。...
瀏覽：1326
日期：2024-08-06
2008年10月2日 ... 積體電路裡，有各種不同用途及功能的接腳。例如訊號腳，它 ..... 此電流，會流經待測
物的接腳，並燒毀Probe Card、Circuit Traces、Pin Electronics ......
瀏覽：1370
日期：2024-08-02
请教有人知道Probe Card 的实际用途是什麽呢? 它是用在测试机台吗? 为什麽
Probe Card 会因料号的不同,有些很贵有些很便宜...有些相同料号却价钱相差很多....
瀏覽：1447
日期：2024-08-07
原因為probe card扎到異物導致探針永久損壞。為了真正了解此種Probe Card的
耐用情形，TOHO再次提供一片Probe Card供實驗用途。( 此片Probe Card為
NT3992 ......
瀏覽：368
日期：2024-08-01
Probe Station ... 全自動12吋 wafer Prober, Prober card可做自動水平調整,wafer
stage可做auto alignment, ... 可使用在最新高電壓Device或者是MEMS等用途廣泛。...
瀏覽：1091
日期：2024-08-07
原因為probe card扎到異物導致探針永久損壞。為了真正了解此種Probe Card的
耐用情形，TOHO再次提供一片Probe Card供實驗用途。( 此片Probe Card為
NT3992 ......
瀏覽：1307
日期：2024-08-06
請教有人知道Probe Card 的實際用途是什麼呢? 它是用在測試機台嗎? 為什麼
Probe Card 會因料號的不同,有些很貴有些很便宜...有些相同料號卻價錢相差很多....
瀏覽：527
日期：2024-08-07
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