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  宜特科技| 掃描式電子顯微鏡(SEM) - IST
  
  掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要利用電子光學系統將電子槍產生的電子聚焦成一微小的電子束至樣品表面，並利用掃描線圈使其在樣品 ...
  
  2024-09-04
  
  瀏覽：1422
- www.ncku.edu.tw
  
  高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學
  
  本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。
  
  2024-09-08
  
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掃描式電子顯微鏡(SEM) | 屏東科技大學貴重儀器中心

日期：2024-09-02

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Scanning electron microscopy (SEM) 掃描式電子顯微鏡

日期：2024-09-02

Introduction. 1. In the SEM, the area to be examined or the microvolume to be analyzed is irradiated with ......

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閎康科技股份有限公司> 掃描式電子顯微鏡(SEM) - MA-tek

日期：2024-09-06

材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron ......

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Scanning Electron Microscopy (SEM) - SERC

日期：2024-09-04

The scanning electron microscope (SEM) uses a focused beam of high-energy electrons to generate a variety of signals at the surface of solid specimens....

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第㆔章 - 台灣大學化學系

日期：2024-09-07

掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡...

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