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  閎康科技股份有限公司 > X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA)
  
  X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) 技術原理材料經由帶有能量的X光照射後形成光電效應，將內層軌域的電子激發產生光電子，只有在樣品表面所產生的光電子才能脫逸出而被測得，此被激發的光電子經偵檢器分析後，可測得光電子束縛能的能譜，由於不同元素 ...
  
  2024-08-08
  
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  第六章歐傑電子能譜（AES）、二次離子質譜儀分析（SIMS
  
  1 第六章歐傑電子能譜（AES）、二次離子質譜儀分析（SIMS）與化學分析電子術（ESCA）尤志州、王志傑、廖尉斯、黃冠群台灣大學化學系表面科學在歐美與日本已成為一門相當普遍之應用科學。於1960 年代以前，因為儀器設備無法突破，故進
  
  2024-08-12
  
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X射線光電子能譜學- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia

日期：2024-08-11

X射線光電子能譜學（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS）是 .... 年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾 ... XPS的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。...

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表面化學分析技術

日期：2024-08-06

以X 射線為探測源，偵測被激發出、具元素特徵 .... 因此亦稱為X 射線光電子能譜儀（X-ray Photoelectron ... 析器的工作原理是利用兩同心內外半球間隙作為電子通....

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掃描式光電子能譜顯微儀簡介

日期：2024-08-06

X光光電子能譜術(X-ray photoelectron spectro- scopy, XPS)，或稱之為化學分析電子能譜術(electron ... 物質界面反應之基本原理與機制，進而達到有效控制....

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第二章表面化學成份分析技術

日期：2024-08-12

最被公司以及研究機構看為是表面分析技術的是歐傑電子能譜儀、X光光電子能譜儀以及二次離子質譜儀（Secondary ion mass spectroscopy, ... 2-1-1 歐傑電子原理....

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X射線光電子能譜儀(X-Ray Photoelectron Sprectroscpoe ...

日期：2024-08-08

X射線光電子能譜儀(X-Ray Photoelectron Sprectroscpoe, XPS) ... 重要規格：XPS X-ray源：Al Kα(1486.6eV)，X-ray spot size：15 ~ 400 mm ，起飛角(take off angle) ......

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XPS原理

日期：2024-08-13

1907年-P.D. Innes使用倫琴管、亥姆霍茲線圈、磁場半球（電子能量分析儀）和照像平版做實驗來 ... X射線是由德國物理學家倫琴於1895年發現的，他由 ... XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)：X光光電子能譜儀，以X光作為激發源，分析物質表面 ......

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