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四點探針Four-Point Probe
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日期：2025-04-14
2003年3月17日 - 電阻值，以建立片電阻與晶片良率之間的關係。 薄片電阻為一定義之 ... 量測另外兩個探針間之電壓差值，就可以計算出薄片電阻。一般而言，探針之 ......看更多
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