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專利鑑定
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日期:2024-08-20
專利鑑定 目的 為協助業界及個人確保所擁有之專利權益,並避免侵害他人專利權益致造成損失,由本中心視專業領域委請本校工學院及電 資學院各系、所、中心相關專長教授或研究人員提供專利鑑定服務。...看更多