SEM (Scanning Electron Microscopy) 掃描式電子顯微鏡

SEM (Scanning Electron Microscopy) 掃描式電子顯微鏡

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日期:2024-10-04
電子槍包括燈絲(陰極,作為電子源)和加速電子用的正極(加速至3-40KeV )。 ... 為掃描式電子顯微鏡主要成像之裝置,主要構造為一閃爍器(Scintillator),可將撞擊其 ... 成像原理. 電腦將表面掃描所產生的各種訊號,逐點轉換成陰極射線管中對應的影像。...看更多