掃描探針顯微鏡之發展 - 《半導體科技.先進封裝與測試》雜誌

掃描探針顯微鏡之發展 - 《半導體科技.先進封裝與測試》雜誌

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日期:2024-08-20
"劉有台 / 工研院化學工業研究所 掃描探針顯微鏡技術(Scanning Porbe Microscopy,SPM)具有可分析微米結構以下之能力,其解析能力可到原子、奈米及分子尺寸上。掃描 ......看更多