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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具
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日期:2024-11-15
Probe Card for IC Testing 探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本影響相當大的重要製程;此探針卡可使成品的良率由原來的70 ......看更多