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WMIS晶圓定位及瑕疵檢測軟體 - 顯微鏡
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日期：2024-08-22
WMIS晶圓定位及瑕疵檢測系統專為晶圓目視檢測而設計，整合Wafer Mapping定位軟體、顯微鏡、Wafer Loader與Prior Shuttle自動載物台，適用於4/6/8吋晶圓即時瑕疵檢測。 WMIS可讀取客戶的Wafer Map，完成與實際Wafer的定位對應，並提供預覽影像，操作者可 ......看更多
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