測試流程整體介紹

測試流程整體介紹

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日期:2025-03-29
測試製程乃是於IC封裝後,測試封裝完成的產品的電性功能,以保証出廠IC 功能上的 完整性(符合Data ... 上圖為半導體產品測試之流程圖,其流程包括下面幾道作業:....看更多