::: 國立中央大學 - 研究發展處 :::

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日期:2024-07-10
1. LV-SEM主體:在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機:在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統:分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統:決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座:快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用...看更多